定制化夾具
根據(jù)客戶(hù)的測(cè)試需求，定制相關(guān)夾具：
1、自定義背板/連接器，國(guó)內(nèi)外分立電阻電容電感器件， 自研芯片、線(xiàn)纜等測(cè)試夾具
2、符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，精確測(cè)量客戶(hù)待測(cè)物的真實(shí)性能
3、可根據(jù)測(cè)試場(chǎng)景選擇TRL/ISD/AFR等多種去嵌方法，均能完全去除夾具的影響，去嵌精度:回?fù)p-40dB@67GHz，插損±0.1dB@67GHz
國(guó)產(chǎn)分立器件測(cè)試夾具
5G天線(xiàn)連接器夾具測(cè)試
去嵌精度&測(cè)試精度
去嵌方式對(duì)比
可以使用多種不同的去嵌方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試產(chǎn)品DUT，均能保證高精度的去嵌測(cè)試
TRL校準(zhǔn)精度
TRL去嵌精度做到50Ghz+，IL小于±0.1db，RL小于-35db。
仿測(cè)校準(zhǔn)案例
帶SMA頭的仿真測(cè)試擬合
插損回?fù)p擬合
TDR阻抗擬合